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2.輸入失調電流



3.輸入失調電壓UI0及其溫漂

與Ii0相仿，在輸入端施加微量差模電壓，使得輸出電壓為零，此施加的電壓稱為輸入失調電壓UI0。同理將輸入失調電壓的變化量與對應的溫度變化量之比稱為輸入失調電壓溫漂，記作△Uio/△T4.最大差模輸入電壓Uidm

指運放兩輸入端之間允許輸入的最大電壓差，超過此電壓，輸入級某一側晶體管發射結可能出現反向擊穿，使輸入特性明顯惡化，甚至損壞集成電路.

4.最大差模輸入電壓Uidm

指運放兩輸入端之間允許輸入的最大電壓差，超過此電壓，輸入級某一側晶體管發射結可能出現反向擊穿，使輸入特性明顯惡化，甚至損

壞集成電路.

5.最大共模輸入電壓Uicm

指運放所能承受的最大輸入共模電壓。超過此電壓，共模抑制比顯著下降，甚至出現“鎖死”現象，進而造成永久性損壞。

6.輸出電壓最大擺幅Uopp

指在標稱電源電壓和額定輸出電流條件下，輸出不產生明顯的削波或非線性失真，運放所提供的最大輸出電壓峰峰值。有時正、負峰大小不一致。

7.轉換速率SR



8.開環帶寬BW

指開環差模電壓增益下降3dB時所對應的頻率。

9.單位增益帶寬BWG

指開環差模電壓增益下降到0dB時所對應的頻率。

此外，還有差模電壓增益Aud、共模電壓增益Auc 、共模抑制比CMRR、差模輸入電阻Rid和輸出電阻R0等重要參數。



值得注意的是：

1.上述各種參數的獲得，是在一定的測試條件下進行的。不同的測試條件，獲得的參數值常常是不一樣的，有的相差甚大。測試條件通常有環境溫度、電源電壓、信號內阻、負載阻抗、測試信號動態范圍，以及測試電路結構等等。

2.集成電路制造商定給的參數有典型值，最大值和最小值。一般的設計采用典型值，高穩定高可靠的設計，就必須根據要求采用最小值或最大值。